Навчально-науковий інститут матеріалознавства та зварювання імені Є.О. Патона

Навчально-наукова лабораторія електронної та оптичної мікроскопії

Навчально-наукова лабораторія електронної та оптичної мікроскопії 

Обладнання лабораторії

Скануючий електронний мікроскоп з енергодисперсійним мікроаналізатором РЭМ 106И

Основні технічні параметри:

  • роздільна здатність в режимі високого вакууму – 4 нм;
  • роздільна здатність в режимі низького вакууму – 6 нм;
  • максимальний розмір зображення, pixels: 1280×960;
  • діапазон регулювання тиску у камері: 1 – 270 Пa;
  • діапазон прискорюючих напруг: 0,5 – 30 кВ;
  • діапазон регулювання збільшення: 15 – 100000;
  • максимальний розмір об’єкта: 50 мм;
  • діапазон вимірювання лінійних розмірів, 0,2 – 5000 мкм.

Границя допустимої основної похибки вимірювання лінійних розмірів, не більше:

  • в діапазоні від 0,2 мкм до 0,8 мкм: ± 40 нм;
  • в діапазоні від 0,8 мкм до 5000 мкм: ± 4%;

Діапазон елементів, що аналізуються: 12 Mg – 92U;

Види досліджень:

  • отримання зображення поверхні об’єкта з високою просторовою роздільною здатністю та великою глибиною різкості (0,6 – 0,8 мм);
  • вивчення мікроструктури матеріалів: метали, сплави, кераміка, композити, напівпровідникові матеріали;
  • фрактографічні дослідження структури поверхні зламів;
  • встановлення якісного та кількісного елементного (хімічного) складу об’єктів, що досліджуються;
  • отримання профілів розподілу хімічного складу в об’єктах, що аналізуються;

Об’єкти аналізу:

  • полікристалічні (порошки, масивні матеріали);
  • тонкі плівки, фольга з масивних матеріалів;
  • масивні монокристали.

Просвічуючий електронний мікроскоп ПЕМ-У

Дозволяє спостерігати на екрані та фотографувати (цифровий запис) зображення об’єктів в широкому діапазоні збільшення, отримувати дифракційні картини, досліджувати об’єкти при їх нахилі та обертанні за допомогою гоніометричного пристрою

Основні технічні особливості:

  • режим високої роздільної здатності по точках: 0,35 нм;
  • режим високої роздільної здатності по кристалічній решітці: 0,14 нм (при роботі з гоніометром 0,7 нм);
  • діапазон збільшень: від 50 до 1 300 000.

Види досліджень:

  • вивчення мікроструктури тонких фольг та тонкоплівкових матеріалів «на просвіт» в режимах світлопольного та темнопольного зображення за збільшення до 1 300 000 разів та високій роздільній здатності (до 1 нм) з високою локальністю (до 1 мкм та менше);
  • визначення розмірів дисперсних частинок, кристалітів, комірок;
  • вивчення дефектів кристалічної будови (дислокацій, дефектів пакування, двійників, границь зерен та потрійних стиків зерен);
  • дослідження структури матеріалів з використанням реплік, що зняті з поверхні об’ємних матеріалів;

Об’єкти аналізу:

  • тонкі плівки, фольга з масивних матеріалів.

Рентгенофлуоресцентний експрес-аналізатор хімічного складу «EXPERT 3L»

Основні технічні особливості:

  • діапазон вимірюваних хімічних елементів (діапазон контролю): від магнію (12Mg) до урану (92U);
  • граничні габаритні розміри зразків: від 3х3х1 мм до 100х100х60 мм;
  • максимальна маса зразка: 10 кг;
  • метрологічний час вимірювання: 300 – 600 с.

Види досліджень:

  • модель «EXPERT 3L» забезпечує кількісне визначення елементів від 12Mg до 92U в будь-яких типах сплавів (як стандартних , так і нестандартних) в процесі виконання більшості вимірювальних завдань металургії: розбракування і сортування металевого брухту; вхідний контроль хімічного складу сировини; оперативний контроль складу металу в процесі його виплавки; вихідний контроль якості продукції і т.п.

Об’єкти аналізу:

  • монолітні однорідні зразки металів, сплавів; 
  • порошкові матеріали.

 

 

Форма заявок на проведення досліджень 

Для співробітників КПІ ім. Ігоря Сікорського

Для організацій, підпорядкованих МОН та НАН України

Для сторонніх організацій

  • форма на проведення електронно-мікроскопічних досліджень
  • форма на проведення досліджень з визначення хімічного складу
  • форма на виготовлення шліфа