Сукупність методів дослідження, що представлені в науково-навчальних центрах і лабораторіях, висока кваліфікація спеціалістів дозволяє комплексно вивчати складні об’єкти та вирішувати актуальні наукові, технічні та технологічні завдання.
ПРИЗНАЧЕННЯ
Проведення фундаментальних та прикладних досліджень структури та хімічного складу матеріалів, вирішення технологічних та науково-дослідницьких задач в галузі інженерного матеріалознавства.
ОСНОВНА ДІЯЛЬНІСТЬ
• розробка нових матеріалів;
• розробка технології отримання матеріалів з наперед заданими властивостями;
• вивчення мікроструктури різних за природою матеріалів;
• фрактографічні дослідження структури поверхні зламів;
• встановлення якісного та кількісного елементного (хімічного) складу;
• вивчення структури матеріалів при збільшенні до 106 разів (з роздільною здатністю до 1 нм);
• визначення розмірів дисперсних частинок, кристалітів, комірок;
• вивчення дефектів кристалічної будови (дислокацій, дефектів пакування, двійників, границь зерен та потрійних стиків зерен);
• аналіз гетерогенних сплавів, виділень частинок, включень.
МАТЕРІАЛИ
• Полікристалічні (порошки, масивні матеріали);
• Тонкі плівки, фольга з масивних матеріалів (сегнетоелектрики, магніти, и др.);
• Масивні монокристали.
ОБЛАДНАННЯ
• Центр оснащений сучасними приладами:
• скануючий електронний мікроскоп з енергодисперсійним мікроаналізатором РЭМ 106И;
• просвічуючий електронний мікроскоп ПЭМ-У (модернізований);
• рентгенофлуоресцентний експресаналізатор хімічного складу "EXPERT 3L".
Завідувач лабораторії:
Романенко Юрій Миколайович (персональний кабінет)
провідний інженер кафедри ВТМПМ
Зразок заяви на проведення досліджень (pdf)
Зразок заяви на визначення хімічного складу (pdf)
Контакти:
(044) 204-91-56
e-mail: Ця електронна адреса захищена від спам-ботів. Вам необхідно увімкнути JavaScript, щоб побачити її.
Кабінет № 110
м. Київ, вул. Політехнічна, 35. Навчальний корпус №9 НТУУ "КПІ"
СКАНУЮЧА ЕЛЕКТРОННА МІКРОСКОПІЯ З ЕНЕРГОДИСПЕРСІЙНИМ ХІМІЧНИМ АНАЛІЗОМ
Отримує зображення поверхні об’єкту з високою просторовою роздільною здатністю та глибиною різкості у відбитих (BSE) та вторинних (SE) електронах, а також дає інформацію про хімічний склад, будову та ін. характеристики приповерхневих шарів. Основана на принципі взаємодії електронного променя з речовиною, що досліджується.
Пріоритетні напрямки дослідження:
• отримання зображення поверхні об'єкту з високою просторовою роздільною здатністю (декілька нанометрів) великою глибиною різкості (0,6...0,8 мм);
• вивчення мікроструктури матеріалів: метали, сплави, керамика, композити, напівпровідникові матеріали;
• фрактографічні дослідження структури поверхні зламів;
• встановлення якісного та кількісного елементного (хімічного) складу об’єктів, що досліджуються;
• отримання профілів розподілу хімічного складу в об’єктах, що аналізуються;
• Елементи, що аналізуються - від Мg (магнія) до U (уран).
ТЕХНІЧНІ ХАРАКТЕРИСТИКИ СКАНУЮЧОГО ЕЛЕКТРОННОГО МІКРОСКОПУ РЭМ-106И
Параметри:
• Діапазон концентрацій, що визначуваних 0,1-100 %;
• Роздільна здатність в режимі високого вакууму (ВЕ), 4нм;
• Роздільна здатність в режимі низького вакууму (ОЕ), 6нм;
• Максимальний розмір зображення, pixels 1280×960;
• Діапазон регулювання тиску у камері, 1...270Пa;
• Діапазон прискорюючих напруг, 0,5...30кВ;
• Діапазон регулювання збільшення, ×15...100000;
• Максимальний розмір об’єкта, 50мм;
• Діапазон вимірювання лінійних розмірів, 0,2...5000мкм;
Границя припустимої основної похибки вимірювання лінійних розмірів, не більше:
• в діапазоні від 0,2 мкм до 0,8 µm, ±40nm;
• в діапазоні більше 0,8 µm до 5000 µm, ±4%;
Діапазон елементів, що аналізуються:
• в режиме высокого вакуума 12 Mg - 92U;
• в режимі низького вакууму 12Mg -92U;
• Роздільна здатність ЕДС, 139eV;
Границі допустимої відносної похибки вимірювання масової частки елементу в діапазоні від 12Mg до 92U у складі масивних зразків, не більше:
• для елементів з діапазоном масової частки більше 10%, ±4%;
• для елементів с діапазоном масової частки більше 1% до 10%, ±20%;
• для елементів с діапазоном масової частки від 0,1% до 1%, ±50%
ПРОСВІЧУВАЛЬНА ЕЛЕКТРОННА МІКРОСКОПІЯ І ЕЛЕКТРОННА ДИФРАКЦІЯ
Дозволяє спостерігати на екрані та фотографувати (цифровий запис) зображення об’єктів в широкому діапазоні збільшення, отримувати дифракційні картини, досліджувати об’єкти при їх нахилі та обертанні за допомогою гоніометричного пристрою
Пріоритетні напрямки дослідження:
• вивчення мікроструктури тонких фольг та тонкоплівкових матеріалів "на просвіт" в режимах світлопольного та темнопольного зображення при збільшенні до 106 разів та високій роздільній здатності (до 1 нм) з високою локальністю (до 1 мкм та менше);
• визначення розмірів дисперсних частинок, кристалітів, комірок;
• вивчення дефектів кристалічної будови (дислокацій, дефектів пакування, двійників, границь зерен та потрійних стиків зерен);
• вивчення структури та фазового складу матеріалів методом електронної дифракції з отриманням електронограм;
• дослідження структури матеріалів з використанням реплік, що зняті з поверхні об’ємних матеріалів;
• морфологічний аналіз елементів отриманих зображень;
• аналіз гетерогенних сплавів, виділень частинок, включень.
ТЕХНІЧНІ ХАРАКТЕРИСТИКИ ПРОСВІЧУВАЛЬНОГО ЕЛЕКТРОННОГО МІКРОСКОПУ ПЕМ-У (МОДЕРНІЗОВАНОГО), ОСНАЩЕНОГО ЦИФРОВОЮ СИСТЕМОЮ ВИВОДА ЗОБРАЖЕННЯ САИ-01А:
Роздільна здатність:
• режим високої роздільної здатності по точках 0,35 нм;
• режим високої роздільної здатності по кристалічної решітці 0,14 нм;
• при роботі з гоніометром 0,7 нм;
• діапазон збільшень від х50 до х1 300 000
МУЛЬТІЕЛЕМЕНТНИЙ ПРЕЦІЗІЙНИЙ ЕКСПРЕС–АНАЛИЗАТОР ХІМІЧНОГО СКЛАДУ СПЛАВІВ "EXPERT 3L" ПРИЗНАЧЕННЯ:
Пряме вимірювання масової частки (концентрації) хімічних елементів у зразках металевих сплавів методом неруйнівного енергодисперсійного рентгенофлуоресцентного аналізу (ЕДРФА) без використання еталонів.
ОБЛАДНАННЯ:
Мультиелементний прецизійний експрес-аналізатор "EXPERT 3L" забезпечує кількісне визначення елементів від 12Mg до 92U в будь-яких типах сплавів (як стандартних, так і нестандартних) і в зразках будь-якого складу та довільної форми при виконанні більшості вимірювальних завдань металургії та машинобудівництва:
• розбракування і сортування металевого брухту;
• вхідний контроль хімічного складу сировини;
• оперативний контроль складу металу в процесі його виплавки;
• вихідний контроль якості продукції;
• неруйнівний контроль металевих виробів: деталей, прокату і т. д.;
• пошук мікродомішок в пробах (наприклад, при діагностиці двигунів, в нафтової промисловості, в екології, геології і т. д.;
• оцінка кількісного елементного складу руд, шламів, шлаків, будівельних матеріалів при їх певному стехіометричному складі.
При цьому в більшості випадків точність і чутливість кількісного аналізу за допомогою "EXPERT 3L" не поступаються традиційно використовуваним хімічним і оптико- емісійним методам аналізу в межах вимог ГОСТів і ДСТУ.
Точність визначення дорогоцінних металів:
• Au, Pt, Ir - 0,5 проби
• Ag, Pd, Rh - 0,75 проби
Аналізатор забезпечує визначення масових часток елементів від 12Mg до 92U в будь-яких типах сплавів (стандартних и нестандартних) при виконанні вимірювальних задач в виробничому циклі:
• Афінаж;
• Визначення проби, сортування лома (обміни, ломбарди, лом з електроніки та електротехніки);
• Вхідний контроль хімічного складу сировини;
• Контроль складу металу в технологічних процесах;
• Оперативний контроль складу металу в процесі лиття;
• Вихідний контроль якості продукції;
• Повернення з торговельної мережі;
• Вимірювання драгметалів в нетоварних зливках, відходах та ін.;
• Якщо є сумніви при визначинні проби на пробірному каміні.
Точність і чутливість кількісного аналізу за допомогою аналізатора EXPERT 3L не поступається хімічному аналізу в межах вимог ГОСТів і ДСТУ.
Сукупність методів дослідження, що представлені в науково-навчальних центрах і висока кваліфікація спеціалістів дозволяє комплексно вивчати складні об’єкти та вирішувати актуальні наукові, технічні та технологічні завдання.