ПРИЗНАЧЕННЯ
   Проведення фундаментальних та прикладних експериментальних досліджень, вирішення технологічних та науково-дослідницьких задач в галузі інженерного матеріалознавства з застосуванням сучасних методик одержання та обробки рентгенівських дифракційних даних, реалізованих на дифрактометрі Ultima IV, для отримання прямої, точної, достовірної та багатогранної інформації про фазовий склад та структуру матеріалів, як основи керування їх фізико-хімічними та механічними властивостями.

ОСНОВНА ДІЯЛЬНІСТЬ

•    розробка нових матеріалів;
•    розробка технології отримання матеріалів з наперед заданими властивостями;
•    визначення фазового складу (ідентифікація фаз), структурних характеристик та їх зміни;
•    дослідження фазових та структурних перетворень;
•    прецизійне визначення параметрів кристалічної решітки;
•    аналіз дефектів кристалічної будови;
•    аналіз розмірів кристалітів в наноматеріалах;
•    аналіз напруженого стану та текстури;
•    визначення термічної стабільності структури матеріалів;
•    дослідження атомної структури.
МАТЕРІАЛИ
•    Полікристалічні (порошки, масивні матеріали);
•    Тонкі плівки (сегнетоелектрики, магніти, т.ін.);
•    Масивні монокристали;
•    Рідина.

ОБЛАДНАННЯ
   Центр оснащений сучасним рентгенівським дифрактометром Ultima-IV, ф. Rigaku,  Японія
Технічні характеристики дифрактометру:
Рентгенівський генератор:
•    Максимальна потужність: 3 кВт;
•    Висока напруга: 20-60 кВ;
•    Струм трубки: 2-60 μА;
•    Випромінювання: Cu;
Гоніометр:
•    Радіус гоніометру: 285 мм;
•    Розмір фокусу: 0.4 x 12 mm;
•    Діапазон вимірювання  2θ: -3…162°;
•    Повністю автоматизоване юстування гоніометра;
•    Мінімальний шаг: 0,0001°.
Оптика:
•    Монохроматор: 2-х позиційний графітовий для трубки с медным анодом для оптики параллельного пучка и фокусирующей конфигурации / Graphite monochromator Cu (Flexible).
Детектор:
•    сцинтиляційний лічильник;
•    Висота зразка: 1050 мм.
ОПЦІЇ ТА ПРИСТАВКИ:
Модуль формування паралельного пучка.
ПРОГРАМНЕ ЗАБЕЗПЕЧЕННЯ:
•    Якісний та кількісний фазовий аналіз;
•    База даних дифрактограм ICDD PDF-2 або  PDF-4;
•    Аналіз Рітвельда;
•    Аналіз кристалічності;
•    Аналіз залишкового аустеніту;
•    Аналіз залишкових напружень;
•    Побудова прямих та обернених полюсних фігур;
•    Функція розподілу орієнтировок.

Завідувач лабораторії:

 Карпець Мирослав Васильович (персональний кабінет)

 професор кафедри МТО, доктор технічних наук

 Зразок заяви на проведення досліджень (pdf)

 Контакти:

 (044) 454-91-56
 e-mail: Ця електронна адреса захищена від спам-ботів. Вам необхідно увімкнути JavaScript, щоб побачити її.
 Кабінет № 103
 м. Київ, вул. Політехнічна, 35. Навчальний корпус №9 НТУУ "КПІ"