Навчально-наукова лабораторія електронної та оптичної мікроскопії
Обладнання лабораторії
Скануючий електронний мікроскоп з енергодисперсійним мікроаналізатором РЭМ 106И
|
Основні технічні параметри:
- роздільна здатність в режимі високого вакууму – 4 нм;
- роздільна здатність в режимі низького вакууму – 6 нм;
- максимальний розмір зображення, pixels: 1280×960;
- діапазон регулювання тиску у камері: 1 – 270 Пa;
- діапазон прискорюючих напруг: 0,5 – 30 кВ;
- діапазон регулювання збільшення: 15 – 100000;
- максимальний розмір об’єкта: 50 мм;
- діапазон вимірювання лінійних розмірів, 0,2 – 5000 мкм.
Границя допустимої основної похибки вимірювання лінійних розмірів, не більше:
- в діапазоні від 0,2 мкм до 0,8 мкм: ± 40 нм;
- в діапазоні від 0,8 мкм до 5000 мкм: ± 4%;
Діапазон елементів, що аналізуються: 12 Mg – 92U;
Види досліджень:
- отримання зображення поверхні об’єкта з високою просторовою роздільною здатністю та великою глибиною різкості (0,6 – 0,8 мм);
- вивчення мікроструктури матеріалів: метали, сплави, кераміка, композити, напівпровідникові матеріали;
- фрактографічні дослідження структури поверхні зламів;
- встановлення якісного та кількісного елементного (хімічного) складу об’єктів, що досліджуються;
- отримання профілів розподілу хімічного складу в об’єктах, що аналізуються;
Об’єкти аналізу:
- полікристалічні (порошки, масивні матеріали);
- тонкі плівки, фольга з масивних матеріалів;
- масивні монокристали.
|
Просвічуючий електронний мікроскоп ПЕМ-У
|
Дозволяє спостерігати на екрані та фотографувати (цифровий запис) зображення об’єктів в широкому діапазоні збільшення, отримувати дифракційні картини, досліджувати об’єкти при їх нахилі та обертанні за допомогою гоніометричного пристрою
Основні технічні особливості:
- режим високої роздільної здатності по точках: 0,35 нм;
- режим високої роздільної здатності по кристалічній решітці: 0,14 нм (при роботі з гоніометром 0,7 нм);
- діапазон збільшень: від 50 до 1 300 000.
Види досліджень:
- вивчення мікроструктури тонких фольг та тонкоплівкових матеріалів «на просвіт» в режимах світлопольного та темнопольного зображення за збільшення до 1 300 000 разів та високій роздільній здатності (до 1 нм) з високою локальністю (до 1 мкм та менше);
- визначення розмірів дисперсних частинок, кристалітів, комірок;
- вивчення дефектів кристалічної будови (дислокацій, дефектів пакування, двійників, границь зерен та потрійних стиків зерен);
- дослідження структури матеріалів з використанням реплік, що зняті з поверхні об’ємних матеріалів;
Об’єкти аналізу:
- тонкі плівки, фольга з масивних матеріалів.
|
Рентгенофлуоресцентний експрес-аналізатор хімічного складу «EXPERT 3L»
|
Основні технічні особливості:
- діапазон вимірюваних хімічних елементів (діапазон контролю): від магнію (12Mg) до урану (92U);
- граничні габаритні розміри зразків: від 3х3х1 мм до 100х100х60 мм;
- максимальна маса зразка: 10 кг;
- метрологічний час вимірювання: 300 – 600 с.
Види досліджень:
- модель «EXPERT 3L» забезпечує кількісне визначення елементів від 12Mg до 92U в будь-яких типах сплавів (як стандартних , так і нестандартних) в процесі виконання більшості вимірювальних завдань металургії: розбракування і сортування металевого брухту; вхідний контроль хімічного складу сировини; оперативний контроль складу металу в процесі його виплавки; вихідний контроль якості продукції і т.п.
Об’єкти аналізу:
- монолітні однорідні зразки металів, сплавів;
- порошкові матеріали.
|
Форма заявок на проведення досліджень
Для співробітників КПІ ім. Ігоря Сікорського
Для організацій, підпорядкованих МОН та НАН України
Для сторонніх організацій
- форма на проведення електронно-мікроскопічних досліджень
- форма на проведення досліджень з визначення хімічного складу
- форма на виготовлення шліфа