Завідувач лабораторії:

Дацюк Оксана Енгельсівна

тел.: +380 95 396 07 23

е-mail: Ця електронна адреса захищена від спам-ботів. Вам необхідно увімкнути JavaScript, щоб побачити її. 

Скануючий електронний мікроскоп з енергодисперсійним мікроаналізатором РЭМ 106И

Основні технічні параметри:

• роздільна здатність в режимі високого вакууму – 4 нм;
• роздільна здатність в режимі низького вакууму – 6 нм;
• максимальний розмір зображення, pixels: 1280×960;
• діапазон регулювання тиску у камері: 1 – 270 Пa;
• діапазон прискорюючих напруг: 0,5 – 30 кВ;
• діапазон регулювання збільшення: 15 – 100000;
• максимальний розмір об’єкта: 50 мм;
• діапазон вимірювання лінійних розмірів, 0,2 – 5000 мкм.

Границя допустимої основної похибки вимірювання лінійних розмірів, не більше:

• в діапазоні від 0,2 мкм до 0,8 мкм: ± 40 нм;
• в діапазоні від 0,8 мкм до 5000 мкм: ± 4%;

Діапазон елементів, що аналізуються: 12 Mg – 92U;

Види досліджень:

• отримання зображення поверхні об’єкта з високою просторовою роздільною здатністю та великою глибиною різкості (0,6 – 0,8 мм);
• вивчення мікроструктури матеріалів: метали, сплави, кераміка, композити, напівпровідникові матеріали;
• фрактографічні дослідження структури поверхні зламів;
• встановлення якісного та кількісного елементного (хімічного) складу об’єктів, що досліджуються;
• отримання профілів розподілу хімічного складу в об’єктах, що аналізуються;

Об’єкти аналізу:

• полікристалічні (порошки, масивні матеріали);
• тонкі плівки, фольга з масивних матеріалів;
• масивні монокристали.

Металографічний тринокулярний мікроскоп iScope IS.1053-PLMi

Мікроскоп оснащений окулярами EWF 10x / 20 мм, план PLMi 5/10/20 / 50x M-IOS цілі, 150 х 140 мм столик. Відображена підсвітка з поляризатором 0-90 °. 3 Вт Підсвічування NeoLED ™.

Тринокулярний варіант із нахиленими трубками Siedentopf 30 °. Між зінична відстань 48-76 мм з регулювання діоптрії на обох окулярах.

П’ятипозиційний тримач об’єктивів.

План PLMi 5x / 0,12, 10x / 0,25, 20x / 0,40 та 50x / 0,70 IOS. Конденсор Abbe N.A. 1,25 з регулюванням висоти з отвором для додаткових повзунків.

Коаксіальне грубе і точне регулювання з позиційним градуюваннями. Точність 1 мкм, 0,2 мм на обертання. Загальний хід приблизно 24 мм. В комплекті камера HD-Lite, кольорова Камера високої чіткості HD 5 МП, високошвидкісна 1080p, 24-бітний колір візуалізація, стандартна карта SD, вихід HDMI і USB-2 із вбудованим програмним забезпеченням захоплення. Може бути використовуватися окремо або з комп’ютером і постачається з програмним забезпеченням ImageFocus 4. Поставляється з об’єктивом 0,45x.

Мікротвердомір LHVS-1000Z

Забезпечує можливість вимірювання мікротвердості за методом Віккерса з навантаженням від 10 г до 1000 г, оснащений багатофункціональним кольоровим 7-дюймовим сенсорним екраном, має можливість автоматичного обчислення та введення розмірів D1 та D2, має функцію перетворення шкали твердості: Rockwell, Brinell, Knoop і функцію автоматичної турелі, також мікротвердомір оснащений вбудованим принтером та USB портом для виведення даних

Просвічуючий електронний мікроскоп ПЕМ-У

Дозволяє спостерігати на екрані та фотографувати (цифровий запис) зображення об’єктів в широкому діапазоні збільшення, отримувати дифракційні картини, досліджувати об’єкти при їх нахилі та обертанні за допомогою гоніометричного пристрою

Основні технічні особливості:

• режим високої роздільної здатності по точках: 0,35 нм;
• режим високої роздільної здатності по кристалічній решітці: 0,14 нм (при роботі з гоніометром 0,7 нм);
• діапазон збільшень: від 50 до 1 300 000.

Види досліджень:

• вивчення мікроструктури тонких фольг та тонкоплівкових матеріалів «на просвіт» в режимах світлопольного та темнопольного зображення за збільшення до 1 300 000 разів та високій роздільній здатності (до 1 нм) з високою локальністю (до 1 мкм та менше);
• визначення розмірів дисперсних частинок, кристалітів, комірок;
• вивчення дефектів кристалічної будови (дислокацій, дефектів пакування, двійників, границь зерен та потрійних стиків зерен);
• дослідження структури матеріалів з використанням реплік, що зняті з поверхні об’ємних матеріалів;

Об’єкти аналізу:

• тонкі плівки, фольга з масивних матеріалів.

Рентгенофлуоресцентний експрес-аналізатор хімічного складу «EXPERT 3L»

Основні технічні особливості:

• діапазон вимірюваних хімічних елементів (діапазон контролю): від магнію (12Mg) до урану (92U);
• граничні габаритні розміри зразків: від 3х3х1 мм до 100х100х60 мм;
• максимальна маса зразка: 10 кг;
• метрологічний час вимірювання: 300 – 600 с.

Види досліджень:

• модель «EXPERT 3L» забезпечує кількісне визначення елементів від 12Mg до 92U в будь-яких типах сплавів (як стандартних , так і нестандартних) в процесі виконання більшості вимірювальних завдань металургії: розбракування і сортування металевого брухту; вхідний контроль хімічного складу сировини; оперативний контроль складу металу в процесі його виплавки; вихідний контроль якості продукції і т.п.

Об’єкти аналізу:

• монолітні однорідні зразки металів, сплавів; 
• порошкові матеріали.