НН ІМЗ імені Є.О. Патона
  • Головна
    • Адміністрація
    • Кафедри
      • Кафедра високотемпературних матерiалiв та порошкової металургiї - ВТМПМ
      • Кафедра зварювального виробництва - ЗВ
      • Кафедра лазерної техніки та фізико-технічних технологій - ЛТФТ
      • Кафедра ливарного виробництва - ЛВ
      • Кафедра фізичного матеріалознавства та термічної обробки - ФМТО
    • Офіційні документи (приймальна комісія)
    • Вступ на бакалаврат
    • Вступ до магістратури
    • Аспірантура & Докторантура
  • Освіта
    • Проєкти за рахунок грантової підтримки НФДУ
    • Проєкти з міжнародного співробітництва
    • Академічна мобільність
    • Канал Деканат НН ІМЗ
    • ЦККНО «Матеріалознавство тугоплавких сполук та композитів»
      • Навчально-наукова лабораторія рентгеноструктурного аналізу Rigaku і мac-спектрометрії
      • Навчально-наукова лабораторія електронно-променевих та плазмових технологій
      • Навчально-наукова лабораторія комп’ютерного ЗD моделювання та 3D аналізу
      • Навчально-наукова лабораторія механічних випробувань
      • Контакти ЦККНО
      • Навчально-наукова лабораторія електронної та оптичної мікроскопії
    • Підсумки наукової роботи НН ІМЗ ім. Є.О. Патона
  1. Ви тут: 
  2. Головна
  3. ua
  4. Наука

Наука

Навчально-наукова лабораторія електронної та оптичної мікроскопії

Деталі
Автор: admin_nn_imz
Категорія: Наука
Опубліковано: 29 липня 2026
Перегляди: 25

Навчально-наукова лабораторія електронної та оптичної мікроскопії 

 

Обладнання лабораторії

Скануючий електронний мікроскоп з енергодисперсійним мікроаналізатором РЭМ 106И

Основні технічні параметри:

  • роздільна здатність в режимі високого вакууму – 4 нм;
  • роздільна здатність в режимі низького вакууму – 6 нм;
  • максимальний розмір зображення, pixels: 1280×960;
  • діапазон регулювання тиску у камері: 1 – 270 Пa;
  • діапазон прискорюючих напруг: 0,5 – 30 кВ;
  • діапазон регулювання збільшення: 15 – 100000;
  • максимальний розмір об’єкта: 50 мм;
  • діапазон вимірювання лінійних розмірів, 0,2 – 5000 мкм.

Границя допустимої основної похибки вимірювання лінійних розмірів, не більше:

  • в діапазоні від 0,2 мкм до 0,8 мкм: ± 40 нм;
  • в діапазоні від 0,8 мкм до 5000 мкм: ± 4%;

Діапазон елементів, що аналізуються: 12 Mg – 92U;

Види досліджень:

  • отримання зображення поверхні об’єкта з високою просторовою роздільною здатністю та великою глибиною різкості (0,6 – 0,8 мм);
  • вивчення мікроструктури матеріалів: метали, сплави, кераміка, композити, напівпровідникові матеріали;
  • фрактографічні дослідження структури поверхні зламів;
  • встановлення якісного та кількісного елементного (хімічного) складу об’єктів, що досліджуються;
  • отримання профілів розподілу хімічного складу в об’єктах, що аналізуються;

Об’єкти аналізу:

  • полікристалічні (порошки, масивні матеріали);
  • тонкі плівки, фольга з масивних матеріалів;
  • масивні монокристали.

Просвічуючий електронний мікроскоп ПЕМ-У

Дозволяє спостерігати на екрані та фотографувати (цифровий запис) зображення об’єктів в широкому діапазоні збільшення, отримувати дифракційні картини, досліджувати об’єкти при їх нахилі та обертанні за допомогою гоніометричного пристрою

Основні технічні особливості:

  • режим високої роздільної здатності по точках: 0,35 нм;
  • режим високої роздільної здатності по кристалічній решітці: 0,14 нм (при роботі з гоніометром 0,7 нм);
  • діапазон збільшень: від 50 до 1 300 000.

Види досліджень:

  • вивчення мікроструктури тонких фольг та тонкоплівкових матеріалів «на просвіт» в режимах світлопольного та темнопольного зображення за збільшення до 1 300 000 разів та високій роздільній здатності (до 1 нм) з високою локальністю (до 1 мкм та менше);
  • визначення розмірів дисперсних частинок, кристалітів, комірок;
  • вивчення дефектів кристалічної будови (дислокацій, дефектів пакування, двійників, границь зерен та потрійних стиків зерен);
  • дослідження структури матеріалів з використанням реплік, що зняті з поверхні об’ємних матеріалів;

Об’єкти аналізу:

  • тонкі плівки, фольга з масивних матеріалів.

Рентгенофлуоресцентний експрес-аналізатор хімічного складу «EXPERT 3L»

Основні технічні особливості:

  • діапазон вимірюваних хімічних елементів (діапазон контролю): від магнію (12Mg) до урану (92U);
  • граничні габаритні розміри зразків: від 3х3х1 мм до 100х100х60 мм;
  • максимальна маса зразка: 10 кг;
  • метрологічний час вимірювання: 300 – 600 с.

Види досліджень:

  • модель «EXPERT 3L» забезпечує кількісне визначення елементів від 12Mg до 92U в будь-яких типах сплавів (як стандартних , так і нестандартних) в процесі виконання більшості вимірювальних завдань металургії: розбракування і сортування металевого брухту; вхідний контроль хімічного складу сировини; оперативний контроль складу металу в процесі його виплавки; вихідний контроль якості продукції і т.п.

Об’єкти аналізу:

  • монолітні однорідні зразки металів, сплавів; 
  • порошкові матеріали.

 

Навчально-наукова лабораторія рентгеноструктурного аналізу Rigaku і мac-спектрометрії

Деталі
Автор: admin_nn_imz
Категорія: Наука
Опубліковано: 28 липня 2026
Перегляди: 38
Обладнання лабораторії
Рентгенівський дифрактометр Rigaku Ultima-IV

Основні технічні параметри:

Рентгенівський генератор:
  • Максимальна потужність: 3 кВт;
  • Висока напруга: 20 – 60 кВ;
  • Струм трубки: 2 – 60 мкА;
  • Випромінювання: Cu.
Гоніометр:
  • Радіус гоніометра: 285 мм;
  • Розмір фокуса: 0.4 x 12 мм;
  • Діапазон вимірювання 2θ: -3 – 162°;
  • Повністю автоматизоване юстування гоніометра;
  • Мінімальний крок: 0,0001°.
Детектор:
  • сцинтиляційний лічильник.
Види досліджень:
  • визначення якісного та кількісного фазового складу (ідентифікація фаз);
  • дослідження фазових та структурних перетворень;
  • прецизійне визначення параметрів кристалічної решітки;
  • аналіз дефектів кристалічної будови;
  • аналіз розмірів кристалітів в наноматеріалах;
  • аналіз напруженого стану та текстури;
  • визначення термічної стабільності структури матеріалів.
Об’єкти аналізу:
  • полікристалічні (порошки, масивні зразки);
  • тонкі (в т.ч. нанорозмірні) плівки;
  • масивні монокристали;
  • рідина.
Мас-спектрометр МИ-1201АТ-01

Основні технічні особливості:

у мас-спектрометрі реалізована іонно-оптична система з несиметрично розташованим джерелом та приймачем іонів відносно 900 секторного магнітного аналізатора зі значним віддаленням приймача від межі магнітного поля. Вхідні та вихідні межі магнітного поля – криволінійні, радіус повороту променю в магнітному полі – 200 мм. Мас-спектрометр укомплектований восьмиколекторним приймачем іонів. Точне налаштування на іонні пучки забезпечується переміщенням колекторів уздовж фокальної площини (центральний колектор – нерухомий). Канал реєстрації іонних струмів побудований за принципом перетворення напруги в частоту.

Види досліджень:

ізотопний аналіз твердотільних зразків в діапазоні від літію до елементів трансуранового ряду.

Об’єкти аналізу:
  • продукти ядерних реакцій;
  • ядерне паливо;
  • продукти ізотопного збагачення.

Форма заявки

  • Форма на проведення рентгеноструктурних досліджень

Навчально-наукова лабораторія механічних випробувань

Деталі
Автор: admin_nn_imz
Категорія: Наука
Опубліковано: 28 липня 2026
Перегляди: 36
Обладнання лабораторії
Електромеханічна універсальна машина для випробування матеріалів (1958У-10-1)

Основні технічні особливості:

Машина укомплектована екстензометрами фірми Instron з похибкою вимірювання деформації ± 0,5% від вимірюваної величини;

Види досліджень:

проведення циклічних випробувань зразків на розтяг, стиск і вигин.

Об’єкти аналізу:

монолітні однорідні зразки металів, сплавів.


Автоматизований стаціонарний мікротвердомір МНV 1000

Основні технічні особливості:
  • діапазон навантаження: 0,1 Н – 10 Н (10 г –1000 г);
  • збільшення мікроскопа: ×100, ×400;
  • максимальна висота зразка: 75 мм.
Види досліджень:
  • вимірювання мікротвердості матеріалів за Віккерсом HV;
  • визначення глибини зневуглецювання сталі;
  • визначення товщини поверхнево зміцнених шарів, вимірюванням
  • мікротвердості спечених залізних матеріалів, цементованих або нітроцементованих;
  • визначення товщини поверхнево зміцнених шарів (азотований шар) сталі;
  • визначення уявної твердості та мікротвердості металевих спечених матеріалів;
  • визначення мікротвердості твердих сплавів, кераміки та зварних з’єднань.
Об’єкти аналізу:
  • монолітні однорідні зразки металів, сплавів.

Навчально-наукова лабораторія комп’ютерного ЗD моделювання та 3D аналізу

Деталі
Автор: admin_nn_imz
Категорія: Наука
Опубліковано: 28 липня 2026
Перегляди: 36

Навчально-наукова лабораторія комп’ютерного ЗD моделювання та 3D аналізу

Обладнання лабораторії

 

Лабораторія призначена для тривимірного комп’ютерного моделювання деталей і виробів, проєктування конструкцій з композиційних матеріалів, використання комп’ютерних моделей в інженерній практиці та комп’ютерного дизайну матеріалів.

Обладнання та програмне забезпечення:
  • робочі станції HP Z230 з професійними моніторами HP Z 23″;
  • операційне середовище ОС MS Windows 7.1 Enterprise 64 bit;
  • прикладне програмне забезпечення: PTC Creo Parametric 3.X; PTC Creo Simulate 3.X; Granta Design CES Edupack 2016; ANSYS 17.2 Workbench; Libre Office 5.X;
  • середовище розробки Anaconda 4.2 (for Python 3.6) 64 bit; MS Visual Studio 2017.

Сторінка 1 із 2

  • 1
  • 2